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  • JMTS-816磁性薄膜材料測量設備磁光克爾效應測量系統

    磁性薄膜材料測量設備磁光克爾效應測量系統 手動左右和上下位移樣品,可測試樣品表面不同點的克爾效應,樣品座有電接口,可加入磁電耦合測試。

    廠商性質:生產廠家 點擊量:1246 更新日期:2024-08-07
  • 半導體材料測試霍爾效應-電磁鐵型JH60A

    儀器輕巧方便,易于攜帶,主要用于量測電子材料之重要特性參數,如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等,薄膜或固體材料均可。半導體材料測試霍爾效應-電磁鐵型JH60A

    廠商性質:生產廠家 點擊量:969 更新日期:2024-08-07
  • 實驗室半導體測量室溫探針臺JZM-D30

    實驗室半導體測量室溫探針臺JZM-D30 該探針臺和我司自主研發的高精度雙極性恒流電源搭配使用,可以提高磁場的高穩定性。

    廠商性質:生產廠家 點擊量:1273 更新日期:2024-08-09
  • JZM-63H   JZM-100H實驗室半導體測量設備氣氛型高溫探針臺

    實驗室半導體測量設備氣氛型高溫探針臺 提供真空抽口*1、氣體入口*1、氣體出口*1、真空釋放口*1; 匹配觀察窗,插拔樣品卡,探針卡,鱷魚夾。

    廠商性質:生產廠家 點擊量:1160 更新日期:2024-10-19
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